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今日更新主板檢測卡代碼(主板檢測卡代碼大全)

2022-06-04 23:01:08 知識問答來源:
導(dǎo)讀 主板測試卡代碼(主板測試卡代碼全集)一般來說,代碼:FF、00、C0、D0、CF、F1或者什么都沒有都表示CPU出現(xiàn)故障。CCCDDDDB0、AE1表示內(nèi)存...

 

主板測試卡代碼(主板測試卡代碼全集)

一般來說,代碼:FF、00、C0、D0、CF、F1或者什么都沒有都表示CPU出現(xiàn)故障。

CCCDDDDB0、AE1表示內(nèi)存不過剩。

22200A、0B、2A、2B和31表示顯卡不是

有些集成顯卡主板2225表示可以正常點亮,有些VIA芯片組顯示器13表示可以點亮,有些品牌機顯示器0B表示可以正常點亮,有些主板顯示器4E表示可以正常點亮,有些英特爾芯片組顯示器26或16表示可以正常點亮。

C1,C6,C3,01,02,循環(huán)跳躍的組合,大多是壞的I/O或BIOS。

如果顯示05,ED,41,直接刷BIOS 00。系統(tǒng)配置已顯示;也就是說,控制INI19被引導(dǎo)。。

01處理器測試1,處理器狀態(tài)驗證,如果測試失敗,循環(huán)無限。處理器的測試即將開始,非屏蔽中斷即將被禁用。CPU測試正在進行或失敗。

02確定診斷類型(正?;蛑圃?。如果鍵盤緩沖區(qū)包含數(shù)據(jù),它將是無效的。禁用非屏蔽中斷;從拖延開始。CMOS寫入/讀取正在進行或失敗。

03清除8042鍵盤控制器并發(fā)出TESTKBRD命令(AAH)。開機延遲已完成。BIOS檢查組件正在運行或出現(xiàn)故障。

04重置8042鍵盤控制器并驗證TESTKBRD。鍵盤控制器軟復(fù)位/開機測試。可編程間隔計時器的測試正在進行或出現(xiàn)故障。

05如果連續(xù)重復(fù)制造測試1至5,可獲得8042控制狀態(tài)。確定軟復(fù)位/上電;ROM將很快啟動。DMA初始準(zhǔn)備正在進行或失敗。

06做好電路芯片的初始準(zhǔn)備,禁用視頻、奇偶和DMA電路芯片,清除DMA電路芯片、所有頁寄存器和CMOS停止字節(jié)。已啟動ROM來計算ROM BIOS校驗和,并檢查鍵盤緩沖區(qū)是否被清除。初始DMA頁面寄存器讀/寫測試正在進行或失敗。

07處理器測試2驗證CPU寄存器的操作。BIOS校驗和正常,鍵盤緩沖區(qū)已經(jīng)清空,BAT(基本保證測試)命令發(fā)送到鍵盤。。

08使CMOS定時器進行初始準(zhǔn)備,并正常更新定時器周期。BAT命令已經(jīng)下到鍵盤了,馬上就要寫了。RAM更新檢查正在進行中或出現(xiàn)故障。

09 EPROM檢查總和,在通過之前必須等于零。驗證鍵盤的基本保證測試,然后驗證鍵盤命令字節(jié)。第一個64K內(nèi)存測試正在進行中。

為視頻接口做初步準(zhǔn)備。發(fā)布鍵盤命令字節(jié)碼,即寫命令字節(jié)數(shù)據(jù)。第一個64K RAM芯片或數(shù)據(jù)線出現(xiàn)故障并移位。

測試8254通道0。寫入鍵盤控制器命令字節(jié),即23號和24號管腳的鎖定/解鎖命令將被發(fā)出。第一個64K RAM奇/偶邏輯失敗。

測試0c8254通道1。鍵盤控制器引腳224被鎖定/解鎖;NOP命令已發(fā)出。第一個64K RAN的地址線出現(xiàn)故障。

0d。檢查CPU速度是否與系統(tǒng)時鐘匹配。檢查控制芯片的編程值是否符合初始設(shè)置。視頻通道測試。如果失敗,按喇叭。NOP命令已被處理;然后測試CMOS停止寄存器。第一個64K RAM的奇偶校驗失敗

測試CMOS停止字節(jié)。CMOS停止寄存器讀/寫測試:將計算CMOS校驗和。初始化I/O端口地址。

0F測試擴展CMOS。將計算的CMOS校驗和寫入診斷字節(jié);CMOS開始初始準(zhǔn)備。。

10測試DMA通道0。CMOS已初步準(zhǔn)備好,CMOS狀態(tài)寄存器將初步準(zhǔn)備好日期和時間。第一個64K RAM的位0出現(xiàn)故障。

1測試DMA通道1。CMOS狀態(tài)寄存器已初步準(zhǔn)備好,DMA和中斷控制器將被禁用。第一個64DK RAM的第一位出現(xiàn)故障。

12測試DMA頁面寄存器。停用DMA控制器1以及中斷控制器1和2;也就是說,視頻顯示器和端口B是初始準(zhǔn)備的。第一個64DK RAM的第2位出現(xiàn)故障。

1測試8741鍵盤控制器接口。視頻顯示已停用,端口B已初步準(zhǔn)備好;即開始電路芯片的初始化/存儲器的自動檢測。第一個64DK RAM的第3位出現(xiàn)故障。

14測試存儲器更新觸發(fā)電路。存儲器中芯片初始化/自動檢測結(jié)束;854定時器測試即將開始。第一個64DK RAM的第4位出現(xiàn)故障。

15一開始測試64K的系統(tǒng)內(nèi)存。第二信道定時器被半測試;854通道2計時器即將完成測試。第一個64DK RAM的第5位出現(xiàn)故障。

6建立8259使用的中斷向量表。通道2定時器測試結(jié)束;854通道1計時器即將完成測試。第一個64DK RAM的第6位出現(xiàn)故障。

17調(diào)整視頻輸入/輸出,如果安裝了視頻BIOS,則啟用它。通道1定時器測試結(jié)束;854通道0計時器即將完成測試。第一個64DK RAM的第7位出現(xiàn)故障。

18測試顯存。如果安裝了可選的視頻BIOS,可以繞過它。通道0定時器測試結(jié)束;更新內(nèi)存即將開始。第一個64DK RAM的第8位出現(xiàn)故障。

19測試通道1的中斷控制器(8259)屏蔽位。存儲器的更新已經(jīng)開始,然后存儲器的更新將完成。第一個64DK RAM的第9位出現(xiàn)故障。

1A測試通道2的中斷控制器(8259)屏蔽位。觸發(fā)內(nèi)存更新線,即將檢查15微秒的開/關(guān)時間。第一個64DK RAM的第10位出現(xiàn)故障。

1B測試CMOS電池水平。完成內(nèi)存更新時間30微秒測試;基本的64K內(nèi)存測試即將開始。第一個64DK RAM的第11位出現(xiàn)故障。

1C測試CMOS校驗和。第一個64DK RAM的第12位出現(xiàn)故障。

1D設(shè)置CMOS配置。第一個64DK RAM的第13位出現(xiàn)故障。

1E測量系統(tǒng)內(nèi)存的大小,并與CMOS值進行比較。第一個64DK RAM的第14位出現(xiàn)故障。

測試1F 64K內(nèi)存最高640K。第一個64DK RAM的第15位出現(xiàn)故障。

20測量固定的8259中斷位。開始基本的64K內(nèi)存測試;將測試地址線。從屬DMA寄存器測試正在進行或失敗。

21保持非屏蔽中斷(NMI)位(輸入/輸出通道的奇偶校驗或檢查)。通過地址線測試;即將引發(fā)平價。主DMA寄存器測試正在進行或失敗。

2測試8259的中斷功能。結(jié)束奇偶校驗;將開始串行數(shù)據(jù)讀/寫測試。主中斷屏蔽寄存器測試正在進行或失敗。

23測試保護模式8086虛擬模式和8086頁面模式。基本64K串行數(shù)據(jù)讀寫測試正常;中斷向量初始化開始前的任何調(diào)整。從機中斷屏蔽存儲器測試正在進行或失敗。

24測量1MB

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